SJ 50923.1-1995 A6-02A-M2-Z2和A6-01B-M1-Z1型半导体光耦合器金属外壳详细规范

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中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50923/1-95,A6-02A-普和 A6-01B一畳,型半导体光耦合器金属外壳,详细规范,Detail specification for types A6 - 02A - 弟 and A6 - 01B - 粉,metal case for semiconductor photocouplers,1996丒06丒14发布1996-10-01 实施,中华人民共和国电子工业部批准,中华人民共和国电子行业军用标准,A6-02A一方和A6-01B一野型半导体,SJ 50923/1-95,光耦合器金属外壳详细规范,Detail specification for types A6 -02A~ ^2 and A6 - 01B- ザ:,metal case for semiconductor photocouplers,1.1 主题内容,本规范规定了 A6—02A—協和A6—01B一切型半导体光耦合器金属外壳(以下简称外,壳)的详细要求,1.2 适用范围,本规范适用于A6—02A一普和A6—01B—當1型及同等结构的半导体光耦合器金属管,座、管帽的研制、生产和采购,2引用文件,GBn 101—81,GJB 128—86,GJB 923—90,SJ 2849—88,SJ/T 10587.1 -93,SJ/T 10587.2—93,铁银钻玻封合金4J29技术条件,半导体分立器件试验方法,半导体分立器件管壳总规范,半导体分立器件封装结构尺寸,DM—305型电子玻璃技术数据,DM—308型电子玻璃技术数据,3要求,3.1 详细要求,各项要求应符合本规范和GJB 923的规定,3.2 设计、结构和材料要求,3.2.1 设计、结构应符合GJB 923的规定,3.2.2 材料要求,3.2.2.1 外壳选用的金属材料应符合GBn 101的要求,中华人民共和国电子工业部1996-06-14发布1996-10-01 实施,__ ] __,SJ 50923/1-95,3.2.2.2 绝缘子玻璃应符合SJ/T 10587.1和SJ/T 10587.2的要求,3.3 尺寸,A6—02A—段外壳结构尺寸应结合SJ 2849 A6—02Aー2,A6—01B—2外壳结构尺寸,符合图1.图2的规定Q,I .镀隹,其余W,也,11~0,图 1 A6—O1B—Mi 尺寸,2,SJ 50923/1-95,8^0.090,图 2 A6—O1B—Z! 尺寸,3,4性能,3.4.1 镀层厚度,管座、管帽金属表面全部镀金或镀银,其厚度分别为:,金层厚度:1.27.3.,银层厚度:1.3.8.9卩0,3.4.2 绝缘电阻,管座极间绝缘电阻分为两级:A级不小于级不小于!012no,3.4.3 密封,封帽前进行核质谱检漏,底座和管帽的漏气速率不大于lX10Tpa丒cm3/s,3.4.4 耐压强度,底座两极板之间的耐压强度不小于1000V,加压时间:10so,3,SJ 50923/1-95,注:若无特殊要求,全部测试应在标准测试条件下进行,3.5外观质量,3.5.1 金属表面的角或边上,不允许有明显的缺边、缺角,3.5.2 金属表面不允许有明显的裂纹,3.5.3 有效区不允许有明显的凹坑、凸起、起皮及机械划痕,3.5.4 引线压焊端面应平整、光洁,3.5.5 任一引线根部不允许有径向腐蚀而造成的细颈「,356透镜光窗应透明无明显杂质、裂痕,透镜呈无色或相应的颜色,透镜表面应光滑无凹,坑,透镜光轴与管帽轴线无明显偏离。透镜内部不允许有正常视カ下可见和明显气泡〇,3.5.7 玻璃绝缘材料表面应光洁、致密,不允许有明显的孔洞、麻坑,封接玻璃不允许凸山危,座的上底面,但允许向底平面内凹0. 2mm,非玻璃封接面不允许有残留玻璃,3.5.8 金属层应呈镀层本色,且致密、均匀、清洁,不允许有明显发花、锈蚀,3.6标志,标志应按照GJB 923中3.6条规定并作以下补充:,在特定生产线生产的鉴定合格的外壳包装盒(袋)上应ソハ”标志,4质量保证规定,4. !抽样和检验,抽样和检验要求及检验批的构成应按照本规范和GJB 923的规定,4.2 鉴定检睑,鉴定检验应按GJB 923的规定进行,检险项目和要求应符合4.3条和4.4条中A.B,检验的规定,4.3 筛选,筛选应按表1规定进行,表1筛 选,注:1)也适用于管帽,筛选项目引用标准条件和要求抽样要,1、外观检验い符合本规范3.5条规定。1。〇%,2、绝缘电阻测试GJB 923 附录 D,D3,试验电压100V,符合本规范3.4.2条规定,3、密封GJB 923 附录 D,D5,符合本规范33.3条规定,■,4.4 质量一致性检验,质量一致性检验应按A、B和C组要求进行检验,并按本规范规定进行固定抽样或しTPD,值抽样,4.4.1 A组检验,A组检验应包括表2中规定的检验和试验,4,SJ 50923/1-95,表2 A组检验,全部检验是非破坏性的,注:管帽仅进行Al、A2a、A2b分组检验〇,检验或试验分组引用标准条 件检验要求,样本大小/接收,数或LTPD,A1分组,タト观GJB 128,2071,在正常照明和正常视,力条件下进行外观目,检,有争议时用10倍,的放大镜检验,按本规范3.5条规定,5,A2a分组,尺寸GJB 128,2066,用相应精度的量具或,专用量具检验,符合本规范3.3条规定,15,A2b分组,镀层厚度GJB 923,D2,在管座外表面和下引,线中部各测一点在管,帽的外表面任测两点,1,符合本规范3.4.1条规定,5(0),A3分……

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